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2017年10月10日
先端デバイス・材料や最先端医療での応用が期待される、有機物質・生体物質の解析に有効
図1 本方式の測定原理
株式会社日立製作所(執行役社長兼CEO:東原 敏昭/以下、日立)は、物質(試料)の表面状態を拡大観察する際に用いられる、走査型プローブ顕微鏡*1向けの新しい測定プローブによる計測技術を開発しました。本技術は、測定プローブの上方にレーザー光を照射することで、そこから伝播・発生した局在的な光スポットを用いて物質を計測する技術です(図1)。これにより、測定時に物質近くにある測定プローブ先端へのレーザー光の直接照射を回避できるため、物質に熱ダメージを与えることなく計測が可能となりました。今後日立は、本技術を開発することで、情報通信、エレクトロニクス、医療分野などでの応用が期待される高機能材料のうち、特に有機物質や生体物質などの熱に弱い物質のナノレベル解析に貢献していきます。
近年、急速にIoTや人工知能(AI)技術が普及しているなか、ナノレベルで生成・加工した先端デバイスや高機能材料 (ナノマテリアル)は、情報通信やエレクトロニクス、モノづくり、環境・エネルギー、健康・医療などの広範な分野でのイノベーションを牽引すると期待されています。一方、ナノレベルでの物質の生成・加工には未知の部分が多く、組成や分子構造を解析する汎用的な計測装置の開発が求められています。こうした高機能材料を構成する物質を解析するため、従来から、走査型プローブ顕微鏡を用いて測定プローブの先端に強いレーザー光を照射し、数十nm*2以下の光スポット(近接場光*3)を発生させ、物質の解析(ラマン散乱光*4検出)を行っています。しかし、物質表面への強いレーザー光の照射を回避しながら、熱に弱い有機物質や生体物質を高感度に解析することは困難でした。
そこで今回、日立は走査型プローブ顕微鏡において、金薄膜を裏面に有する薄膜シリコンから成る新しい測定プローブ構造を考案しました。その結果、物質にレーザー光を直接照射せずに、物質の解析(ラマン散乱光検出)を行うことが可能となりました。
新しく開発した測定プローブの技術は、以下の通りです。
シリコンから成る測定プローブの裏面に金(厚さ約50nm)の薄膜を付着させた後、FIB(Focused Ion Beam)を用いて、シリコンの厚みを、厚さ250nmに薄膜化する加工を施します。薄膜化したことにより、測定プローブの上方に照射したレーザー光(波長660nm)は、シリコン薄膜を透過し、プローブ裏面のシリコンと金の界面まで到達することができます。
測定プローブのシリコンと金の界面に対し、固有の角度でレーザー光を入射すると、金表面にプラズモン共鳴*5と呼ばれる現象が起こり、入射した光は非常に高い効率で表面プラズモンに変換されます。このプラズモンが測定プローブ先端まで伝播することで、近接場光スポット(径約50nm)を発生させることが可能となりました。
今回開発した測定プローブによる計測技術を利用した実証実験では、金属基板上の有機物質(4-PBT*6)の積層膜を測定し、ラマン散乱光を高感度に計測することができました(図2)。
以上の技術を適用した結果、物質に直接レーザー光を照射することなく、生成した近接場光により、物質から発生したラマン散乱光を計測することができ、熱ダメージレスでの材料解析を実現しました。今後日立は、本技術を、最先端デバイスやナノレベルの機能材料を含む製品における熱ダメージレスの組成・形状解析に必要な計測装置向けに実用化を図っていきます。
なお、本技術は10月8日米国ネバダ州リノで開催される「SciX 2017(The Great Scientific Exchange Conference 2017)」で発表する予定です。
図2 有機物質積層膜を測定した結果
本技術における、プラズモン共鳴による高効率な近接場光の生成技術は、国立大学法人徳島大学(学長: 野地澄晴)大学院社会産業理工学研究部理工学域光応用系の原口雅宣教授、岡本敏弘准教授との共同研究の結果、開発されました。また、入射・検出光学系は学校法人東海大学(学長: 山田清志)工学部光・画像工学科の立崎武弘講師との共同研究の結果、開発されました。
株式会社日立製作所 研究開発グループ 技術統括センタ [担当:阿部、藤原]
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