誤差5％以内で金属の実効原子番号を測定するX線イメージング法を開発

日立製作所 研究開発グループは、高エネルギー加速器研究機構、北里研究所と共同で以下のニュースリリースを発行しました。

発行日、発行元

2014年1月9日　株式会社日立製作所、大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構、学校法人北里研究所

タイトル

誤差5％以内で金属の実効原子番号を測定するX線イメージング法を開発

リリース文抜粋

株式会社日立製作所、大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構および学校法人北里研究所は共同で、金属膜を透過するX線(放射光)の吸収量とともに位相の変化をX線干渉計によって測定し、金属の実効原子番号を観察するX線イメージング法を開発しました。本方式で、アルミ、銅、鉄、亜鉛の単一元素からなる材料を観察したところ、誤差5％以内で元素を特定できることを実証しました。

開発した技術は、大きなエネルギー領域での放射光の特長を利用し、大気中で数十ミリメートルの広い範囲を測定できること、また数十ミクロンの空間分解能で、被写体となる材料の実効原子番号を特定できることから、新たな磁石新素材やインフラ構造部材の観察技術として期待されます。

なお、本成果は、2014年1月11日から広島国際会議場(広島県)で開催される「第27回日本放射光学会年会」で発表する予定です。

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実効原子番号 : 化合物や混合物の構成元素を平均的に見たときに相当する原子番号。

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